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List of outcomesJP patents / patent applications
List of outcomes
JP patents / patent applications
Patents ... 7; Patent applications ... 1,
[The list of US patents/patent applications (Patent 5, Patent Applicaiton 0) is here.]
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- red : First Authored / gray : Co－Authored
in 2011
8半導体層の検査方法
| 発明者 | 竹内 日出雄、山本 佳嗣 | ||
|---|---|---|---|
| 特許番号 | 特許第 5189661号 | 発行日 | 2013年4月24日 |
| 出願番号 | 特許出願 2011-23447 | 出願日 | 2011年2月7日 |
| 公開番号 | 特許公開 2011-101049 | 公開日 | 2011年5月19日 |
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in 2008
7半導体装置
| 発明者 | 竹内 日出雄、山本 佳嗣 | ||
|---|---|---|---|
| 特許番号 | 特許第 5320774号 | 発行日 | 2013年10月23日 |
| 出願番号 | 特許出願 2008-52409 | 出願日 | 2008年3月3日 |
| 公開番号 | 特許公開 2009-212231 | 公開日 | 2009年9月17日 |
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in 2007
6窒化物半導体の評価方法及び評価装置
| 発明者 | 竹内 日出雄、山本 佳嗣 | ||
|---|---|---|---|
| 特許番号 | 特許第 5125252号 | 発行日 | 2012年11月9日 |
| 出願番号 | 特許出願 2007-166624 | 出願日 | 2007年6月25日 |
| 公開番号 | 特許公開 2009-4706 | 公開日 | 2009年1月8日 |
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in 2005
The latest JPN Patent
5半導体層の検査方法および装置
| 発明者 | 竹内 日出雄、山本 佳嗣 | ||
|---|---|---|---|
| 特許番号 | 特許第 4777003号 | 発行日 | 2011年7月8日 |
| 出願番号 | 特許出願 2005-218329 | 出願日 | 2005年7月28日 |
| 公開番号 | 特許公開 2007-35991 | 公開日 | 2007年2月8日 |
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in 2004
4表面キャリア再結合速度の測定方法及び測定装置
| 発明者 | 竹内 日出雄、山本 佳嗣 | ||
|---|---|---|---|
| 特許番号 | 特許第 4441381号 | 発行日 | 2010年1月15日 |
| 出願番号 | 特許出願 2004-316818 | 出願日 | 2004年10月29日 |
| 公開番号 | 特許公開 2006-128502 | 公開日 | 2006年5月18日 |
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The latest JPN Patent
3窒化物半導体装置およびその製造方法
| 発明者 | 竹内 日出雄、山本 佳嗣 | ||
|---|---|---|---|
| 特許番号 | 特許第 4781643号 | 発行日 | 2011年7月15日 |
| 出願番号 | 特許出願 2004-214259 | 出願日 | 2004年7月22日 |
| 公開番号 | 特許公開 2006-40932 | 公開日 | 2006年2月9日 |
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in 2003
2ピエゾ電場の評価方法
| 発明者 | 竹内 日出雄、山本 佳嗣、石川 高英 | ||
|---|---|---|---|
| 出願番号 | 特許出願 2003-33306 | 出願日 | 2003年2月12日 |
| 公開番号 | 特許公開 2004-247380 | 公開日 | 2004年9月2日 |
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The latest JPN Patent
1半導体多層膜の分光計測方法および分光計測装置
| 発明者 | 竹内 日出雄、山本 佳嗣 | ||
|---|---|---|---|
| 特許番号 | 特許第 4031712号 | 発行日 | 2008年1月9日 |
| 出願番号 | 特許出願 2003-9515 | 出願日 | 2003年1月17日 |
| 公開番号 | 特許公開 2004-219371 | 公開日 | 2004年8月5日 |
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